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上海測(cè)宇科學(xué)儀器科技有限公司
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織構(gòu)和極圖
在材料科學(xué)中，織構(gòu)表述樣品晶體取向分布。 樣品這些取向是隨機(jī)的被稱為隨機(jī)織構(gòu)。如果晶體取向不隨機(jī)，而是有些擇優(yōu)取向，樣品則有弱，強(qiáng)和中等織構(gòu)。織構(gòu)程度取決于晶體擇優(yōu)取向的百分比?？棙?gòu)存在于幾乎全部工程材料中，且對(duì)材料性能的影響很大?？棙?gòu)經(jīng)常用"極圖"來(lái)表示。
系統(tǒng)
-
高功率 (18 kW) θ/θ XRD: TTRAX III
-
微區(qū)XRD: RAPID II
-
多目的高性能XRD: Ultima IV
-
全自動(dòng)XRD: SmartLab?
在材料科學(xué)中，織構(gòu)表述樣品晶體取向分布。 樣品這些取向是隨機(jī)的被稱為隨機(jī)織構(gòu)。如果晶體取向不隨機(jī)，而是有些擇優(yōu)取向，樣品則有弱，強(qiáng)和中等織構(gòu)。織構(gòu)程度取決于晶體擇優(yōu)取向的百分比?？棙?gòu)存在于幾乎全部工程材料中，且對(duì)材料性能的影響很大?？棙?gòu)經(jīng)常用"極圖"來(lái)表示。
系統(tǒng)
- 高功率 (18 kW) θ/θ XRD: TTRAX III
- 微區(qū)XRD: RAPID II
- 多目的高性能XRD: Ultima IV
- 全自動(dòng)XRD: SmartLab?
