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上海測宇科學儀器科技有限公司

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半導體計量

理學是設計和制造以X射線為基礎測量工具的前驅(qū)者和領導者之一。在半導體領域有將近30年的市場先導作用,我們的產(chǎn)品家族從工廠生產(chǎn)控制到產(chǎn)品研發(fā)用于薄膜和材料的表征。

系統(tǒng)

  • 實驗室高分辨XRD: SmartLab®, Ultima IV
  • 高功率 θ/θ測角儀系統(tǒng): TTRAX III