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Rietveld 分析
Hugo Rietveld 發(fā)明，全譜擬合結(jié)構(gòu)精修被廣泛接受，它是幾乎所有晶體材料結(jié)構(gòu)分析極具價值的方法。Rietveld分析類似于X射線熒光（XRF）的基本參數(shù)法。 這個軟件細(xì)化各種參數(shù)——包括：晶格參數(shù)，峰的寬度和形狀，擇優(yōu)取向——推導(dǎo)計算衍射圖樣。一旦派生圖樣與位置樣品數(shù)據(jù)幾乎相同，可獲得樣品各種屬性包括：精確定量信息，晶體尺寸。提煉圖樣的過程是精密計算的過程，要求數(shù)分鐘內(nèi)計算出多組分混合結(jié)果。與傳統(tǒng)定量方法相比，Rietveld分析是先進(jìn)的，無需標(biāo)準(zhǔn)樣品即可得到±1%以內(nèi)的精確結(jié)果。在此之前，使用粉末衍射進(jìn)行混合材料的無標(biāo)精確定量分析是幾乎不可能的。
系統(tǒng)
-
高功率θ/θ測角儀系統(tǒng): TTRAX III
-
微區(qū)衍射: RAPID II
-
臺式X射線衍射儀: MiniFlex600
-
高性能XRD: Ultima IV
-
多目的高分辨XRD: SmartLab?
Hugo Rietveld 發(fā)明，全譜擬合結(jié)構(gòu)精修被廣泛接受，它是幾乎所有晶體材料結(jié)構(gòu)分析極具價值的方法。Rietveld分析類似于X射線熒光（XRF）的基本參數(shù)法。 這個軟件細(xì)化各種參數(shù)——包括：晶格參數(shù)，峰的寬度和形狀，擇優(yōu)取向——推導(dǎo)計算衍射圖樣。一旦派生圖樣與位置樣品數(shù)據(jù)幾乎相同，可獲得樣品各種屬性包括：精確定量信息，晶體尺寸。提煉圖樣的過程是精密計算的過程，要求數(shù)分鐘內(nèi)計算出多組分混合結(jié)果。與傳統(tǒng)定量方法相比，Rietveld分析是先進(jìn)的，無需標(biāo)準(zhǔn)樣品即可得到±1%以內(nèi)的精確結(jié)果。在此之前，使用粉末衍射進(jìn)行混合材料的無標(biāo)精確定量分析是幾乎不可能的。
系統(tǒng)
- 高功率θ/θ測角儀系統(tǒng): TTRAX III
- 微區(qū)衍射: RAPID II
- 臺式X射線衍射儀: MiniFlex600
- 高性能XRD: Ultima IV
- 多目的高分辨XRD: SmartLab?
